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納普森EC-80 非接觸式渦流電阻率和方電阻手動(dòng)測量儀

更新時(shí)間:2023-08-22      瀏覽次數(shù):163

EC-80
非接觸式渦流電阻率和方電阻手動(dòng)測量儀

非接觸式

只需將樣品插入探頭之間即可測量的簡單測量儀器

  • 在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換

  • 通過 JOG 旋鈕進(jìn)行簡單的測量條件設(shè)置

*由于探頭為固定式,購買前請從多種探頭中選擇一種。

測量規(guī)格

測量對象

  • 半導(dǎo)體及太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)

  • 新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)

  • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)

  • 化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)

  • 其他(*請聯(lián)系我們)

目標(biāo)尺寸

約 8 英寸或約 156 x 156 毫米

測量范圍

[電阻率] 1m 至 200Ω cm
(*所有探頭類型的總范圍/厚度為 500um 時(shí))
[表面電阻] 10m 至 3kΩ/sq
(*所有探頭類型的總范圍)

*有關(guān)每種探頭類型的測量范圍,請參閱以下內(nèi)容。
(1) 低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω·cm)
(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω·cm)
(3)高:10~1,000Ω/□(0.5 ) ~60Ω·cm)
(4) S-高:1,000 至 3,000Ω/□ (60 至 200Ω·cm)

產(chǎn)品尺寸

W220×D325×H210mm
約6.5kg



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