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關(guān)于日本連桿測(cè)量機(jī)的特點(diǎn)和測(cè)定方法
2024-09-04產(chǎn)品中心/ products
日本nasgiken簡(jiǎn)易微量金屬污染物回收裝置SC系列SC-3100●通過(guò)連接PC創(chuàng)建各種收集模式,并從硅晶片的表面和側(cè)面(斜角部分)收集(采樣)微量金屬污染物。SC-8100●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能,并且可以對(duì)硅以外的材料制成的晶圓或因體蝕刻等而導(dǎo)致表面變得粗糙的晶圓進(jìn)行采樣。SC-9100●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能
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日本nasgiken簡(jiǎn)易微量金屬污染物回收裝置SC系列
SC-3100
●通過(guò)連接PC創(chuàng)建各種收集模式,并從硅晶片的表面和側(cè)面(斜角部分)收集(采樣)微量金屬污染物。
●設(shè)備安裝方便,不需要太多外部資源,不占用太多空間。
●由于工作是機(jī)械完成的,因此不需要操作員技能,任何人都可以輕松取樣。
●由于設(shè)備自動(dòng)供給取樣化學(xué)品并移動(dòng)支架,因此與SC-2000相比,可以減少工人造成的污染。
SC-8100
●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能,并且可以對(duì)硅以外的材料制成的晶圓或因體蝕刻等而導(dǎo)致表面變得粗糙的晶圓進(jìn)行采樣。
●放寬了對(duì)晶圓條件和采樣化學(xué)品類(lèi)型的限制,使得可以回收重金屬以外的離子。
SC-9100
●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能,并且可以對(duì)硅以外的材料制成的晶圓或因體蝕刻等導(dǎo)致表面變得粗糙的晶圓進(jìn)行采樣。
●放寬了對(duì)晶圓條件和采樣化學(xué)品類(lèi)型的限制,使得可以回收重金屬以外的離子。
日本nasgiken簡(jiǎn)易微量金屬污染物回收裝置SC系列
SC-3100
●通過(guò)連接PC創(chuàng)建各種收集模式,并從硅晶片的表面和側(cè)面(斜角部分)收集(采樣)微量金屬污染物。
●設(shè)備安裝方便,不需要太多外部資源,不占用太多空間。
●由于工作是機(jī)械完成的,因此不需要操作員技能,任何人都可以輕松取樣。
●由于設(shè)備自動(dòng)供給取樣化學(xué)品并移動(dòng)支架,因此與SC-2000相比,可以減少工人造成的污染。
SC-8100
●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能,并且可以對(duì)硅以外的材料制成的晶圓或因體蝕刻等而導(dǎo)致表面變得粗糙的晶圓進(jìn)行采樣。
●放寬了對(duì)晶圓條件和采樣化學(xué)品類(lèi)型的限制,使得可以回收重金屬以外的離子。
SC-9100
●具有即使在親水狀態(tài)的晶圓上也能收集污染物的功能,并且可以對(duì)硅以外的材料制成的晶圓或因體蝕刻等導(dǎo)致表面變得粗糙的晶圓進(jìn)行采樣。
●放寬了對(duì)晶圓條件和采樣化學(xué)品類(lèi)型的限制,使得可以回收重金屬以外的離子。