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您的位置:首頁  -  產(chǎn)品中心  -  儀表,電子設(shè)備  -  日本  -  SWT-NEO-F日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀

日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀

日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F
特征
1.寬測量范圍:0 至 2.5mm
2.通過調(diào)零和標準調(diào)整可立即進行測量

  • 產(chǎn)品型號:SWT-NEO-F
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-08-16
  • 訪  問  量:117
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產(chǎn)品詳情
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日本sanko 電磁膜厚儀    紫外光譜儀SWT-NEO-F

特征

1.寬測量范圍:0 至 2.5mm

2.通過調(diào)零和標準調(diào)整可立即進行測量

規(guī)格

測量范圍    0~2.50mm

顯示方式    LCD數(shù)字、顯示保持

顯示分辨率    1μm:0-999μm  0.1μm:0-400μm  0.5μm:400-500μm  0.01mm:1.00-2.50mm

測量精度  均勻表面上 0 ~ 100 μm:±1 μm 或示值的 ±2%   101 μm ~ 2.50 mm:±2% 以內(nèi)

工作溫度   0~40℃(無凝結(jié))

重量     約270克(含電池)

配件   標準厚板、測試調(diào)零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書

日本sanko 電磁膜厚儀    紫外光譜儀SWT-NEO-F

特征

1.寬測量范圍:0 至 2.5mm

2.通過調(diào)零和標準調(diào)整可立即進行測量

規(guī)格

測量范圍    0~2.50mm

顯示方式    LCD數(shù)字、顯示保持

顯示分辨率    1μm:0-999μm  0.1μm:0-400μm  0.5μm:400-500μm  0.01mm:1.00-2.50mm

測量精度  均勻表面上 0 ~ 100 μm:±1 μm 或示值的 ±2%   101 μm ~ 2.50 mm:±2% 以內(nèi)

工作溫度   0~40℃(無凝結(jié))

重量     約270克(含電池)

配件   標準厚板、測試調(diào)零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書

日本sanko 電磁膜厚儀    紫外光譜儀


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