日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型

日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型

恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉(zhuǎn)光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數(shù)測量。

由于可以計算缺陷密度，因此可以應(yīng)用于太陽能電池薄膜的性能改進和開發(fā)

特征

• 使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準(zhǔn)確的缺陷密度。

• PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長

• 集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經(jīng)濟型

• 測量是全自動的，沒有麻煩

細(xì)節(jié)

我們的 CPM/PDS 組合測量設(shè)備型號 OKL-CPM/PDS-500 結(jié)構(gòu)緊湊，因此可以用一臺設(shè)備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。

因此，可以計算出準(zhǔn)確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內(nèi)進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。

特征

• 使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準(zhǔn)確的缺陷密度。

• PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長

• 集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經(jīng)濟型

• 測量是全自動的，沒有麻煩

細(xì)節(jié)

我們的 CPM/PDS 組合測量設(shè)備型號 OKL-CPM/PDS-500 結(jié)構(gòu)緊湊，因此可以用一臺設(shè)備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。

因此，可以計算出準(zhǔn)確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內(nèi)進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。