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更新時間：2023-11-24 
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它具有較寬的高度測量范圍，可以測量白色干涉儀難以一
次測量的起伏。
它體積小、重量輕，可以集成到各種設備中。
可進行實時 [0.1 秒（最大）] 波紋度測量。
它具有較寬的動態(tài)范圍，可以測量干涉儀難以測量的大像差。
除了波前的傳感器之外，底座單元還內置有自準直儀、可用作測
量光的激光光源以及便于調節(jié)的對準相機。
可根據(jù)需要選配各種附件（擴束鏡、聚光鏡、參考球等）。
半導體晶圓波紋度測量
平面基底上金屬薄膜波紋度的測量
金屬和玻璃表面波紋度的測量
硬盤表面波紋度的測量
非球面透鏡和凹/凸透鏡的檢查
鏡頭單元和光學裝置的調整
檢查平面物體的反射和透射波前的
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